Електронні частин : SNJ54BCT8374AFK

Виробник : Texas Instruments

Упаковка :

Pins :

Опис : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Температура : Хв °C | Макс °C

Datasheet : SNJ54BCT8374AFK PDF

• SNJ54BCT8373AFK
• SNJ54BCT8373AJT
• SNJ54BCT8374AFK
• SNJ54BCT8374AJT