Електронні частин : SNJ54BCT8244AFK

Виробник : Texas Instruments

Упаковка :

Pins :

Опис : Scan Test Devices With Octal Buffers

Температура : Хв °C | Макс °C

Datasheet : SNJ54BCT8244AFK PDF

• SNJ54BCT8240AFK
• SNJ54BCT8240AJT
• SNJ54BCT8244AFK
• SNJ54BCT8244AJT
• SNJ54BCT8245AFK
• SNJ54BCT8245AJT